SJ 50033.38-1994 半导体分立器件.CS4856～CS4861型硅N沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
|
ID： |
9488304A08DA44BF9B59B75873C59158 |
|
文件大小(MB)： |
0.51 |
|
页数： |
12 |
|
文件格式： |
|
|
日期： |
2024-7-28 |
|
购买： |
文本摘录（文本识别可能有误，但文件阅览显示及打印正常，pdf文件可进行文字搜索定位）：
SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/38-94,半导体分立器件,CS4856.CS4861 型,硅N沟道耗尽型场效应晶体管,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for types CS4856.CS4861,silicon N-channel deplition mode field-effect transistor,1994 - 09-30 发布1994-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,CS4856.CS4861 型,硅n沟道耗尽型场效应晶体管,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for types CS4856 .CS4861,silicon N-channel deplition mode field-effect transistor,sj 50033/38-94,1范围,11主题内容,本规范规定了 CS4856.CS4861型硅N沟道耗尽型结型场效应晶体管（以下简称器件）,的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3 -1器件的等级,按GJB 33《半导体分立器件总规范》:1.3的规定,提供的质量保证等级为普军、特军和超特,军三级,分别用字母GP,GT和GCT表示,2引用文件,GB 4386-84场效应晶体管测试方法,GB 7581—87半导体分立器件外形尺寸,GJB 33-85 半导体分立器件总规范,GJB 128—86半导体分立器件试验方法,3要求,3.1详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3-2设计、结构和外形尺寸,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01 实施,—1 一,sj 50033/38-94,器件的设计,结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3. 2.1引出端材料和涂层,引出端材料应为可伐。引出端表面涂层应为镀金、镀锡或浸锡。对引出端材料和涂层要求,选择或另有要求时,在合同或订单中应明确规定（见6.3）,3. 2-2器件结构,釆用硅N沟道耗尽型结型结构,3.2.3外形尺寸,1.源极2.漏极3.栅极,图1外形尺寸,2 —,SJ 50033/38-94,mm,代号,符号 、ふよ_,A3 01B,最 小公 称最 大,A 4.32 5.33,如2. 54,物1.01,物0, 407 0* 508,地5.31 58,仙4.53 4.95,J 0, 92 1- 04 1.16,k 0. 51 1.21,1. 12.5 25.0,Ai 1. 27,3.3最大额定值和王要电特性（‘八:25 0,3- 3.I最大额定值,尸ーロ,Ta「25 c,巴。さ,般= 25C,VGS Vds和 Vtjg,T,和,ァ.,CS4856,0857,CS4858,C64859,CS4860,CS4861,CS4856,CS4857,CS4858,CS4859,CS4860,CS4861,(mW) (mW) (V) (V) (V) (V) (mA) (C),360 1800 -40 -30 40 30 . 50 —65 至 1200,注」）アル>25 C时,按2. 06mW/C的速率线性降额.,2）Tc>25C时,按］0. 3mW/ C的速率线性降额.,3-3-2主要电特性,参 数,型 号,极 限 值,符号（单位） 测试条件最小值最大值,I隔"(mA),3: 15V,Vgs = O,CS4856,CS4859,50 175,CS4857,CS4860,20 100,CS4858,CS4861,8 80,一3 一,SJ 50033/38-94,续表,參 數,型 号,极 限 值,符号（单位） 测试条件最小值最大值,Vih(oai(V],JD f，r 20mA,ド酬、ケ0,CS4856,C54859,〇. 75,h = 10mA1Vrcs=0,CS4857,CS4860,- 0. 5,G=5mA，yGs=,CS4858,CS4861,- 0.5,ド询扰,15V,厶ド口. 5t）A,CS4856,匚54859,- 4 -10,CS4857,CS4860,-2 -6,CS4858,CS4g61,-0. 8 -4,り fil),匕iげ二 U ノロ=0,Jd- lOO^V (rms),CS4X56,CS4859,25,CS4857,CS486O,- 40,CS485B,CS4861,— 60,所有型号0. 485,Rqヨじ（匕加讨卜所有型号0. 097,注:D脉冲法（见4.5. 1）,3.4电测试要求,电测试应符合GB 4586及本规范的规定,15标志,器件的标志应按“GJB 33的规定,4质,保证规定,4l I抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,42鉴定检验,鉴定检脸应按GJB 33的规定,4-3筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB 33表2和本规范的规定,其测试应按本规范表!进行,超过本规范表1极,11— 4 —,SJ 50033/38-94,限值的器件应予剔除,筛 选,(GJB 33 表 2),测试或试验,5.密 封不要求,6,高温反偏不要求,?.中间参数测试ん闷、石郎、ん(州)］和^da!Dn>,8.功率老化见 4. 3. 1,9.最后测试,本规范表1和A2分组,ム『匕55= i0. InA或初……
……